ナノテクノロジ分野
走査トンネル顕微鏡/走査トンネル分光
STM／STS
販売終了品本装置は、文部科学省「都市エリア産学官連携促進事業（豊橋エリア）」ならびに浜松市オプトロニクスクラスター創成事業化開発の助成のもと、豊橋技術科学大学 内田裕久 教授および株式会社アルファプロジェクトが簡易型表面解析装置、小型・可搬の原子間力顕微鏡として開発・製品化したものです。
技術指導 : 豊橋技術科学大学 内田裕久 教授 2002年～2008年
特長
- 走査範囲XY 600nm、Z 1200nm 原子分解能
- 探針はPt/It線を切断したものを利用
- It像、log-It像、Vz像の取得（画像サイズは、64, 128, 256, 512, 1024pix）、tiff形式でファイル保存
- 測定中のデータを波形表示するプロファイル機能
- 取得した画像に対するフィルタ等画像処理、3D表示
- 測定で取得したSTS測定データをCSV形式でファイル保存
- 外部入力端子の使用による二画像の同時取得
- 試料に対する走査方向の選択
- 試料ホルダを外し、スキャナヘッド部を直接試料に置いて観察可能
STM・走査トンネル顕微鏡
走査トンネル顕微鏡（Scanning Tunneling Microscope：STM）は、下図のように探針を試料表面直近まで近づけると、量子力学的な効果でトンネル電流が流れる現象を利用して試料表面を画像化します。
STS・走査トンネル分光
走査トンネル分光（Scanning Tunneling Spectroscopy：STS）は、探針と試料の垂直方向の間隔を固定してバイアス電圧と変えながらトンネル電流を測定します。この電流-電圧特性を調べることで、測定した位置の状態密度を得ることができ、試料表面の局所電子状態を定性的に知ることができます。
| I-V測定 | バイアス電圧を変化させたときのトンネル電流の推移をグラフ表示 |
|---|---|
| I-S測定 | 探針を現在位置を基準にZ軸方向に上下させたときのトンネル電流の推移をグラフ表示 |
| dl/dV-V測定※ | I-V測定をおこなうときにロックインアンプを使用してバイアス電圧へ交流電圧を付加したときのトンネル電流を交流信号と同じ周波数の信号成分としてグラフ表示 |
| dl/dV/（I/V）-V測定※ | dl/dV-V測定同様、バイアス電圧が大きくトンネル電流の推移確率が変化する状態でも適した情報を取得可能 |
観察画像
仕様
| 制御装置 | SPMコントローラ（横320×奥行230×高さ130㎜） |
|---|---|
| PCソフトウェア | CompactSPMソフトウェア |
| スキャナ | STM用スキャナ（直径76㎜×高さ98㎜） |
| 除振台 | 簡易除振台または簡易除振ユニット |
| 防風カバー | STM用簡易防風カバー |
| CCDカメラ | 小型CCDカメラ |
| 付属品等 | 専用工具、Pt/It線1m |
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簡易型原子間力顕微鏡（ダイジェスト版マニュアル）
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販売終了品
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