ナノテクノロジ分野
走査型近接場光学顕微鏡
SNOM
販売終了品本装置は、文部科学省「都市エリア産学官連携促進事業（豊橋エリア）」ならびに浜松市オプトロニクスクラスター創成事業化開発の助成のもと、豊橋技術科学大学 内田裕久 教授および株式会社アルファプロジェクトが簡易型表面解析装置、小型・可搬の原子間力顕微鏡として開発・製品化したものです。
技術指導 : 豊橋技術科学大学 内田裕久 教授 2002年～2008年
特長
- 走査範囲XY 16um、Z 3um
- 光学測定モードは4種類に対応
１：反射-集光、２：反射-照射、３：透過-集光、４：透過-照射
- レーザと検出器の光学的配置の自由度が高く270°の範囲で変更が可能
- 標準のプローブは、光ファイバとチューニングフォークが一体になっており容易に変換可能
- シアフォース検出方式による高低差像（トポグラフ像）と光強度像の取得
- 画像サイズは、64, 128, 256, 512, 1024pix、tiffファイル保存
- 測定中のデータを波形表示するプロファイル機能
- 取得した画像に対するフィルタ等画像処理、3D表示
走査型近接場光学顕微鏡／SNOM
走査型近接場光学顕微鏡（Near-Field Optical Microscope SNOM）は、先端に微小な開口を持つ光ファイバープローブを装着したチューニングフォークを振動させ、プローブ先端が試料に接触したときの振幅変化を検出（シアフォース検出方式）することでプローブと試料との間の距離を制御します。このときプローブを走査することで構造を画像化し、同時にプローブ先端の微小開口によって光を検出することにより近接場光像を得ることができます。
光学測定は、レーザ光源と光検出器の位置を変えることによって４種類の測定を行うことができます。
観察画像
仕様
| 制御装置 | SPMコントローラ（横320×奥行230×高さ130㎜） |
|---|---|
| PCソフトウェア | CompactSPMソフトウェア |
| スキャナ | SNOM用スキャナ（横168㎜×高さ180㎜×高さ220㎜） 半導体レーザ・ファイバー光導入ユニット PMT/LD電源ユニット（横320㎜×高さ230㎜×高さ66㎜） |
| 除振台 | 簡易除振ユニット |
| オプション | 暗箱、ロックインアンプ |
| 付属品等 | 専用工具、SNOMプローブ |
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簡易型原子間力顕微鏡（ダイジェスト版マニュアル）
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販売終了品
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