ナノテクノロジ分野
原子力顕微鏡／摩擦力顕微鏡／磁気力顕微鏡
AFM／FFM／MFM
販売終了品本装置は、文部科学省「都市エリア産学官連携促進事業（豊橋エリア）」ならびに浜松市オプトロニクスクラスター創成事業化開発の助成のもと、豊橋技術科学大学 内田裕久 教授および株式会社アルファプロジェクトが簡易型表面解析装置、小型・可搬の原子間力顕微鏡として開発・製品化したものです。
技術指導 : 豊橋技術科学大学 内田裕久 教授 2002年～2008年
特長
AFM／FFM
- 走査範囲（3種類から選択）
ナロースキャナ : XY2μm Z 2μm、スタンダードスキャナ : XY 8μm Z 3μm、ワイドスキャナ : XY 50μm Z 5μm
- ACモード、コンタクトモード
- FFM像、Vz像の取得（画像サイズは、64, 128, 256, 512, 1024pix）、tiffファイル保存
- 取得した画像に対するフィルタ等画像処理、3D表示
原子力顕微鏡／AFM
原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：AFM）の基本的な仕組みは、下図のようにカンチレバーと呼ばれる小型のテコの先に付いている探針と試料の原子との間に働く原子間力を検出して表面の形状を画像化します。スキャンする方向を変え表面の摩擦力を観測する摩擦力顕微鏡、磁性材料をコーティングしたカンチレバーを用いることで磁気分布を観測できる磁気力顕微鏡などに応用されます。
カンチレバーを自励発振させながら試料表面を非接触で走査するACモードと、カンチレバーと試料の間に働く斥力を一定に保ちながら試料表面を走査するコンタクトモードが使用できます。
摩擦力顕微鏡／FFM
カンチレバーと試料の間に働く摩擦力をAFMコンタクトモードのカンチレバーの横方向のねじれから測定します。
磁気力顕微鏡／MFM
磁性材料をコーティングしたカンチレバーを使用し、試料表面から離れたところでの位相をみることによって、磁気分布を測定することができます。コントローラにオプションのMFM制御基板を追加実装します。
観察画像
仕様
| 制御装置 | SPMコントローラ（横320×奥行230×高さ130㎜） |
|---|---|
| PCソフトウェア | CompactSPMソフトウェア |
| スキャナ | AFM用スキャナ（横104㎜×奥行104㎜×高さ134㎜） |
| 除振台 | 簡易除振ユニット |
| CCDカメラ | 小型CCDカメラまたは高倍率CCDカメラ |
| 付属品等 | 専用工具、カンチレバー10本 |
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簡易型原子間力顕微鏡（ダイジェスト版マニュアル）
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販売終了品
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